奧林巴斯 美國(guó)GE 超聲探頭選擇

接觸式探頭：

接觸式探頭是一個(gè)通常可生成縱波且與被測(cè)樣件直接接觸的單晶探頭。所有接觸式探頭都裝有WC-5防磨面，不僅具有超級(jí)防磨效果，可以延長(zhǎng)探頭壽命，還可以提供適合于大多數(shù)金屬的聲阻抗。

接觸式探頭是一種可與被檢工件直接接觸的單晶縱波探頭。

優(yōu)勢(shì)

• WC-5防磨板增加了這種探頭的耐用性、抗裂性及防磨性。

• 所有這類探頭都可用于檢測(cè)面粗糙的工業(yè)部件。

• 具有與大多數(shù)金屬匹配的近似聲阻抗。

• 可用于檢測(cè)多種材料。

應(yīng)用

• 垂直聲束缺陷探測(cè)和厚度測(cè)量。

• 分層缺陷的探測(cè)和定量。

• 材料特性評(píng)價(jià)和聲速測(cè)量。

• 檢測(cè)平板、坯材、棒材、鍛件、鑄件、擠壓成形件及多種其它金屬與非金屬部件。

• 可在50°C（122°F）的高溫下持續(xù)使用。

指尖接觸式

• 大于6毫米（0.25英寸）的探頭帶有凸節(jié)，便于抓取。

• 303不銹鋼外殼。

• 薄外形的特點(diǎn)便于檢測(cè)難于接觸到的表面。

• 根據(jù)客戶的要求，可免費(fèi)提供用于方便抓取探頭的可拆裝塑料套筒。

6毫米（0.25英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP4；3毫米

（0.125英寸）套筒的工件編號(hào)為CAP8。

• 標(biāo)準(zhǔn)配置為直角連接器，并適用于Microdot連接器。

雙晶探頭：

雙晶探頭包含兩個(gè)縱波晶片（一個(gè)用作發(fā)送器，另一個(gè)用作接收器），兩個(gè)晶片裝于同一個(gè)外殼中，但中間有一層隔音屏障。每個(gè)晶片都稍微向另一個(gè)晶片傾斜，目的是使從工件底面反彈的信號(hào)以V形聲程傳播。雙晶探頭在檢測(cè)嚴(yán)重腐蝕的工件時(shí)一般都能提供更穩(wěn)定的讀數(shù)，而且還可用于高溫環(huán)境。

雙晶探頭在同一個(gè)外殼中裝有由隔音屏障分開(kāi)的兩個(gè)晶片。一個(gè)晶片發(fā)射縱波，另一個(gè)晶片作為接收器接收聲波。要了解有關(guān)用于MG2和37系列測(cè)厚儀的探頭更詳細(xì)的情況請(qǐng)咨詢我們。

優(yōu)勢(shì)

• 改進(jìn)了近表面的分辨率。

• 避免了高溫應(yīng)用所需的多延遲塊。

• 在粗糙或彎曲表面上的耦合效果好。

• 減少了粗晶粒或易散射材料中的直接反向散射噪音。

• 將低頻單晶探頭的穿透性能與高頻單晶探頭的近表面分辨率性能結(jié)合在一起。

• 可與曲面工件外形相吻合，緊貼在工件的表面。

應(yīng)用

• 剩余壁厚測(cè)量。

• 腐蝕/侵蝕監(jiān)控。

• 焊縫覆蓋和覆層的粘膠/脫膠檢測(cè)。

• 探測(cè)鑄件和鍛件中的多孔性、夾雜物、裂紋及分層等缺陷。

• 探測(cè)螺栓或其它圓柱形部件中的裂紋。

• 等于或小于5.0 MHz的探頭可承受的最高溫度為425°C（800°F）；7.5 MHz和10 MHz的探頭可承受的最高溫度為175°C（350°F）。表面溫度在90°C（200°F）到425°C（800°F）的情況下，建議使用的占空因數(shù)為最多10秒鐘接觸，然后進(jìn)行最少1分鐘的空氣冷卻（不適用于袖珍雙晶）。

角度聲束探頭：

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以所選的角度將縱波或橫波

發(fā)射到工件中。角度聲束探頭可以對(duì)工件中垂直入射接觸式探頭的超聲聲程無(wú)法到達(dá)的區(qū)域進(jìn)行檢測(cè)。角度聲束探頭一般用于焊縫檢測(cè)，因?yàn)槿绻褂脴?biāo)準(zhǔn)接觸式探頭，焊冠會(huì)擋住聲波，使聲波無(wú)法到達(dá)希望檢測(cè)的焊縫區(qū)域，而且一般的缺陷對(duì)準(zhǔn)操作會(huì)使角度聲束產(chǎn)生更強(qiáng)的反射信號(hào)。

角度聲束探頭是一種與楔塊一起使用的單晶探頭，可以向被測(cè)工件內(nèi)部發(fā)射折射橫波或縱波。

優(yōu)勢(shì)

• 三種材料制成的Accupath楔塊在提高了信噪比性能的同時(shí)，還表現(xiàn)出的防磨特性。

• 高溫楔塊可對(duì)熱材料進(jìn)行在役檢測(cè)。

• 用戶可根據(jù)需要定制楔塊，以得到非標(biāo)準(zhǔn)的折射角度。

• 具有可更換型和整合型兩種結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)。

• 具有外形吻合性能。

• 可提供在鋁制材料中獲得標(biāo)準(zhǔn)折射角度的楔塊及整合組件設(shè)計(jì)。

應(yīng)用

• 缺陷探測(cè)與定量。

• 要了解衍射時(shí)差探頭，請(qǐng)參閱第35頁(yè)。

• 檢測(cè)管道、管件、鍛件、鑄件，機(jī)加工部件和結(jié)構(gòu)部件上的焊縫缺陷或裂縫。

袖珍旋入式探頭

• 旋入式設(shè)計(jì)，303不銹鋼外殼。

• 不同頻率的探頭顏色不同。

• 兼容于短接近、Accupath、高溫和表面波楔塊。

延遲塊探頭：

延遲塊探頭為單晶寬帶接觸式探頭，其特殊的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì)是在探頭晶片前插有塑料或環(huán)氧材料制成的一個(gè)薄片。延遲塊改進(jìn)了工件近表面缺陷的分辨率，可以測(cè)量更薄的材料厚度，并能提供更精確的厚度測(cè)量結(jié)果。延遲塊可根據(jù)工件的表面幾何形狀緊貼在工件上，而且還可用于高溫應(yīng)用中。

可更換延遲塊探頭是一種單晶接觸式探頭，專門(mén)與可更換的延遲塊一起使用。

優(yōu)勢(shì)

• 強(qiáng)阻尼探頭加上延遲塊可以提供的近場(chǎng)分辨率。

• 較高的探頭頻率提高了分辨率。

• 直接接觸法可提高測(cè)量薄材料及發(fā)現(xiàn)細(xì)小缺陷的能力。

• 具有外形吻合性能，適用于曲面工件。

應(yīng)用

• 精確測(cè)厚。

• 垂直聲束缺陷探測(cè)。

• 對(duì)接觸區(qū)域有限的工件進(jìn)行檢測(cè)?？筛鼡Q延遲塊探頭

• 每個(gè)探頭的配置都帶有一個(gè)標(biāo)準(zhǔn)延遲塊和一個(gè)固定環(huán)。

• 備有高溫延遲塊和干耦合延遲塊。

• 探頭及延遲塊端部之間需要耦合劑。

保護(hù)面探頭：

保護(hù)面探頭為一種帶有螺紋外殼護(hù)套的單晶縱波探頭，可以安裝延遲塊、防磨帽或保護(hù)膜。這個(gè)特點(diǎn)極大地增強(qiáng)了探頭的靈活通用性，可使這種探頭用于范圍極為廣泛的應(yīng)用中。保護(hù)面探頭還可用作直接接觸式探頭，檢測(cè)橡膠或塑料等低阻抗材料，以改進(jìn)聲阻抗的匹配效果。

保護(hù)面探頭是一種單晶縱波接觸式探頭，可以裝配延遲塊、保護(hù)膜，或保護(hù)防磨

帽。

優(yōu)勢(shì)

• 具有很強(qiáng)的靈活適用性，提供可拆裝延遲塊、保護(hù)防磨帽和保護(hù)膜。

• 單獨(dú)使用探頭時(shí)（沒(méi)有附加任何可選配件），其環(huán)氧防磨面可提供匹配于塑料、很多復(fù)合材料及其它低阻抗材料的適當(dāng)?shù)穆曌杩埂?/span>

• 外殼帶有螺紋，方便了延遲塊、保護(hù)膜和防磨帽的安裝。

應(yīng)用

• 垂直聲束缺陷探測(cè)

• 厚度測(cè)量

• 高溫檢測(cè)

• 平板、坯材、棒材及鍛件的檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)保護(hù)面•

• 探頭的舒適套筒的設(shè)計(jì)目的是便于操作者在帶手套時(shí)抓取和握持探頭。

• 標(biāo)準(zhǔn)的連接器類型為直角BNC（RB）；也可以提供平直BNC（SB）連接器。

• 延遲塊、保護(hù)膜及防磨帽需與探頭分開(kāi)訂購(gòu)。

水浸探頭：

水浸探頭為單晶縱波探頭，其防磨面具有與水匹配的阻抗。水浸探頭裝在密封外殼中，在與防水線纜一起使用時(shí)，可以*浸泡在水面以下。由于水浸探頭將水用作耦合劑和延遲塊，因此針對(duì)必須對(duì)工件施行持續(xù)耦合的掃查應(yīng)用來(lái)說(shuō)，這種探頭是一種理想的探頭。水浸探頭還有一個(gè)附加選項(xiàng)，即可以通過(guò)增加特定區(qū)域的聲強(qiáng)同時(shí)減少聲束焦點(diǎn)大小的方式將聲束聚焦。

水浸探頭是一種單晶縱波探頭，帶有一個(gè)在聲學(xué)特性上與水相配的1/4波長(zhǎng)的層。這種探頭是為使超聲波在部分或全部浸在水中的被測(cè)工件中傳播而特別設(shè)計(jì)的。

優(yōu)勢(shì)

• 水浸技術(shù)提供了一種均勻耦合的方法。

• 四分之一波長(zhǎng)的匹配層加強(qiáng)了聲能的輸出。

• 防腐蝕的303不銹鋼外殼帶有鍍鉻黃銅制連接器。

• 射頻屏蔽功能可以提高關(guān)鍵性應(yīng)用的信噪比特性。

• 除了筆刷式探頭的所有水浸探頭都可進(jìn)行球面（點(diǎn)）聚焦或柱面（線）聚焦。

• 用戶定制的聚焦長(zhǎng)度可根據(jù)用戶需求聚焦聲束，以提高檢測(cè)小反射體的靈敏度。

應(yīng)用

• 自動(dòng)掃查。

• 在線厚度測(cè)量。

• 高速探測(cè)管道、棒材、管件、平板及其它類似部件中的缺陷。

• 基于渡越時(shí)間和波幅的成像功能。

• 穿透檢測(cè)。

• 材料分析及聲速測(cè)量。

使用注意事項(xiàng)：

探頭浸于水中的時(shí)間不能超過(guò)8小時(shí)。探頭需要有16小時(shí)的干燥時(shí)間，以保證其使用壽命。

高頻探頭：

高頻探頭包括延遲塊探頭和聚焦水浸探頭。這些探頭的頻率范圍在20 MHz至225

MHz之間。高頻延遲塊探頭可以對(duì)厚度薄如0.010毫米（0.0004英寸）的材料進(jìn)行厚度測(cè)量（取決于材料、探頭、表面條件、溫度和設(shè)置）。高頻聚焦水浸探頭是對(duì)硅制微型芯片等具有低衰減性的薄材料進(jìn)行高分辨率成像和缺陷探測(cè)應(yīng)用的理想探頭。

高頻探頭為單晶接觸式或水浸式探頭，可產(chǎn)生等于或高于20 MHz的頻率。

優(yōu)勢(shì)

• 強(qiáng)阻尼寬帶設(shè)計(jì)提供了時(shí)間分辨率。

• 短波長(zhǎng)可獲得*的缺陷分辨率能力。

• 直徑極小的聲束也可以聚焦。

• 頻率范圍為20 MHz到225 MHz。

應(yīng)用

• 高分辨率缺陷探測(cè)，如：微孔隙檢測(cè)或微裂紋檢測(cè)。

• 表面斷裂或不平整性的C掃描成像。

• 可測(cè)量薄如0.010毫米（0.0004英寸）材料的厚度*。

• 可對(duì)陶瓷及高級(jí)工程材料進(jìn)行檢測(cè)。

• 可對(duì)材料進(jìn)行分析。

*厚度范圍取決于材料、探頭、表面條件、溫度及所選的的設(shè)置。高頻接觸式

• 使用直接接觸檢測(cè)法時(shí)，利用熔融石英延遲塊可進(jìn)行缺陷評(píng)價(jià)、材料分析或厚度測(cè)量。

• 3種不同延遲塊的配置（BA、BB、BC）可形成多種延遲塊回波的組合。

• 其標(biāo)準(zhǔn)連接器類型為直角Microdot（RM）。

奧林巴斯 美國(guó)GE 超聲探頭選擇

數(shù)字化 | 渦流 | 膠片 | 檢測(cè)系統(tǒng) | 超聲波 | X射線

特殊探頭能為您解決特殊檢測(cè)問(wèn)題

如果您正有一個(gè)檢測(cè)難題需要解決，而標(biāo)準(zhǔn)探頭不能解決您的問(wèn)題，那么您需要讀讀這本小冊(cè)子。這里介紹的是已經(jīng)在許多超聲檢測(cè)領(lǐng)域獲得成功應(yīng)用的特殊探頭，它們都已經(jīng)通過(guò)檢測(cè)驗(yàn)證，得到用戶的肯定, 并且可以根據(jù)客戶需要定制。其中必有一種能解決您的檢測(cè)問(wèn)題。

由于我們特殊探頭的范圍非常廣，我們需要把同類型的探頭歸類在一起，從產(chǎn)品型號(hào)的編號(hào)上對(duì)探頭歸類（例如B2S-0A）。在這種情況下，為了選擇合適的探頭，您必須要對(duì)檢測(cè)任務(wù)有詳細(xì)的了解。

*解決方案是您能發(fā)給我們檢測(cè)物件的圖紙，上面標(biāo)有探頭位置，缺陷位置，可能需要的頻率等。如果您在這本冊(cè)子里沒(méi)有找到與您的檢測(cè)問(wèn)題相關(guān)的信息，也請(qǐng)把你的詳細(xì)需求發(fā)給我們，我們的探頭及應(yīng)用專家將很樂(lè)意為您尋求最佳解決方案并為您提供合適的探頭。

特殊探頭能為您解決特殊檢測(cè)問(wèn)題

① RB…,MRB…型

用于管道周向檢測(cè)的斜探頭，能夠同時(shí)從兩個(gè)周向檢測(cè)管道的。Lemo00接頭。

② IR…型

從管道內(nèi)部檢測(cè)缺陷或測(cè)量厚度。

③ Z4R6X6/6X

多晶片探頭—4MHz，6個(gè)6x6mm晶片水浸探頭，帶2.5m探頭線。我們也能提供其他

頻率，晶片尺寸和晶片數(shù)量的探頭，相應(yīng)的多晶片斜探頭可以用來(lái)檢測(cè)橫向缺陷。

④ IALF10…型

10MHz水浸探頭，園柱曲面，晶片寬30mm，由PVDF材料制成，帶1.5m

Lemo1接口探頭線?？商峁┢渌l率和晶片尺寸的探頭。

鐵軌檢測(cè)探頭

① SESZS…型

4MHz雙 晶 直 探 頭 ， 0.95m探 頭 線 ，Lemo接頭。

② SESZW…型

雙晶斜探頭，聲束同時(shí)向前，向后70º入射，2MHz，帶0.75m探頭線，Lemo1接頭。

③ WB45-01型

45º斜探頭，1MHz，頂端帶Lemo1接頭；套在夾具上組成前后串聯(lián)式檢測(cè)鐵軌。

注釋:

SESZS…型和SESZW…型都適用于鐵軌檢測(cè)系統(tǒng)自動(dòng)檢測(cè)。用于坯餅檢測(cè)時(shí)請(qǐng)參

考第6頁(yè)，板坯檢測(cè)。關(guān)于其他的檢測(cè)問(wèn)題，請(qǐng)聯(lián)系我們的專業(yè)技術(shù)人員。

用于軸承和輪軸

① B2S-0A…型

1MHz，2MHZ，4MHZ斜探頭，晶片直徑24mm，可更換保護(hù)膜。通過(guò)不同角度延

遲塊得到7º 14º 21º 28º 縱波斜探頭。頂部Lemo1接頭。尤其適用于檢測(cè)大軸承偏

心位置的體積型缺陷。

② AW…型

斜探頭，延遲塊可更換，2MHZ，晶片直徑24mm，Lemo1接頭；適用于橫波探

傷，探頭接觸面可與曲面耦合。

③ ASW…型

斜探頭，用橫波檢測(cè)輪軸中心孔，帶有2m探頭線，Lemo1插頭一個(gè)。

④ B…S, MB…S

直探頭，可提供各種頻率，晶片直徑為10mm和24mm，帶延遲塊。B…S型為

Lemo1接頭，MB…S探頭為Lemo00接頭。

⑤ Z2GB1, Z4NB5

帶延遲塊的縱波斜探頭，專為電梯軸承檢測(cè)設(shè)計(jì)，與Lemo 00插頭匹配。

注釋:

對(duì)于粗晶材料(由于晶粒散射而導(dǎo)致信噪比差)，請(qǐng)參照第15頁(yè)“粗晶結(jié)構(gòu)材料

的檢測(cè)”。關(guān)于特大軸承檢測(cè)請(qǐng)參照第6頁(yè)“大型部件檢測(cè)”。

用于板坯

① SEZ4R10…型

雙晶4MHz探頭，聲束寬度約為50mm，由一個(gè)發(fā)射晶片和3個(gè)接收晶片組成，一根探頭線，帶有4個(gè)Lemo1接頭。

① 5Z6X27ND型

雙晶5MHZ探頭，聲束寬度約為25mm，帶Lemo1接頭的探頭線，尤其適合板材邊緣檢測(cè)。

② B…S-O型

提供各種頻率的直探頭，可更換保護(hù)膜，頂部Lemo1接頭。例如用于檢測(cè)平板輥筒。

③ SEZ4N30V，SEB4TV型

4MHz雙晶探頭，2.5m帶Lemo1接頭探頭線一根，即使在不斷升高的溫度下也適用于檢測(cè)平板輥筒。

④ UWB…

1 MHz，2 MHz或4 MHz入射角可調(diào)斜探頭，可以得到縱波和橫波，配有Lemo1接

口，用于產(chǎn)生蘭姆波。

用于大型部件

① NQP…型

用 于 直 接 接 觸 法 的 聚 焦 直 探 頭 ，2MHZ，晶片直徑34mm，50mm，或

75mm，深度越深處，焦點(diǎn)直徑越小，Lemo1接頭。尤其適用于各個(gè)方向的相

鄰缺陷。

② WQP…型

聚 焦 斜 探 頭 ， 晶 片 直 徑 3 4 m m ，50mm，或75mm，深度越深處，焦點(diǎn)直徑越小，Lemo1接頭。

③ SEB…G型

雙晶探頭，1 MHz 或 2 MHz， 大晶片，深度聚焦，Lemo 00接頭。

④ GRST…型

相控陣探頭，聲束焦點(diǎn)和角度可變，可用于自動(dòng)檢測(cè)系統(tǒng)。

用于特殊形狀工件

例如飛機(jī)零件

① G…MN，G…KS型

多 種 頻 率 高 分 辨 率 的 直 探 頭 ， 可 更換延遲塊，Microdot接頭，G…KS為

Lemo00探頭。例如用于渦輪葉片冷卻壁 測(cè) 量 。 檢 測(cè) 塑 料 時(shí) ， 延 遲 塊 可 根

據(jù) 實(shí) 際 使 用 環(huán) 境 設(shè) 計(jì) ， 使 延 遲 塊 跟工件耦合，消除界面回波（0界面探頭）。

② H…MN…F型

高分辨率水浸探頭，多種頻率和晶片直徑可選，探頭帶有噴水耦合的噴嘴和防

水Lemo03接頭；例如用于渦輪葉片的厚度測(cè)量。

③ SMWB…

小晶片斜探頭，4 MHz，5MHz或6 MHz，晶片尺寸3mm x 4mm，Microdot接頭；例如檢測(cè)鉚釘孔的裂紋，也可用串聯(lián)式技術(shù)檢測(cè)。

例如：汽車(chē)部件

汽車(chē)零件的檢測(cè)幾乎是機(jī)械自動(dòng)化的?；钊?，閥門(mén)，輪軸，齒輪檢測(cè)的相關(guān)信

息可在特別發(fā)布的SD263資料中找到。點(diǎn)焊檢測(cè)的信息參見(jiàn)第10頁(yè)。

用于混凝土，石頭，和木材

① B0.05N，B0.05U…型

直 探 頭 ， 5 0 K H Z ， 接 觸 面 3 0 m m 和55mm，信號(hào)衰減弱，Lemo1接頭；只

能用于穿透式檢測(cè)。我們可以提供更高頻率探頭。

② B0.05NN型

直探頭，50KHZ，探頭通過(guò)增強(qiáng)桿增強(qiáng)超聲信號(hào)，聲束傳播直徑大，Lemo1接

頭，只適用于穿透式軟質(zhì)材料的檢測(cè)(如木材）。

③ K0.1G，K0.25G型

100KHZ和250KHZ直探頭，接觸面直徑45mm，阻尼性好，例如脈沖持續(xù)時(shí)間

短，防水Lemo1接頭；在脈沖回波模式可用于精確測(cè)量超聲傳播時(shí)間。

③ B…SL，G0.5G型

250 kHz，500 kHz，1 MHz直探頭，各種晶片尺寸可選，Lemo1接頭。

用于陶瓷（如絕緣材料）

① K…G，K…N 型

高分辨率直探頭，提供各種頻率，晶片直徑24mm和10mm，耐磨接觸面和Lemo00接頭。

② IB…

2MHZ或4MHZ，Lemo00接頭，窄外殼設(shè)計(jì)使得探頭能進(jìn)入傘形絕緣體的縫隙中。

③ IW…B…

4MHZ 斜探頭，Lemo00接頭。入射角取決于缺陷位置和探頭耦合點(diǎn)。注釋：大部分標(biāo)準(zhǔn)探頭可以用于檢測(cè)大絕緣體，成形的陶瓷工件可使用高頻探頭（如AP-FM50.3.1）水浸法探傷。

用于簡(jiǎn)單復(fù)合纖維塑料

① G…NS，G…KS型

各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，通過(guò)螺紋固定保護(hù)膜或延遲塊，Lemo00接頭。可以根據(jù)工件材料設(shè)計(jì)延遲塊，盡量消除界面波的影響（0界面探頭）。也適用于帶涂層工件的厚度測(cè)量。

② CA212，CA214

高分辨率直探頭，2MHZ，5MHZ，晶片尺寸10mm和24mm，Microdot接頭，通過(guò)螺紋固定保護(hù)膜或延遲塊，適用于帶涂層工件的厚度測(cè)量。

② G…N，G…KB

各種頻率沖擊波直探頭，晶片尺寸可選，Lemo00接頭，耐磨接觸面。

③ W70B2GT型

70º斜探頭，頻率為2MHZ，Lemo00接頭，適合檢測(cè)PE和PVC材料。65º斜探頭可用于檢測(cè)大厚度材料，WB70-1適合厚度更大的材料。

說(shuō)明：

關(guān) 于 熱 塑 料 的 檢 測(cè) 請(qǐng) 參 見(jiàn) 特 別 版SD277資料，干耦合檢測(cè)相關(guān)信息見(jiàn)第14頁(yè)。

用于點(diǎn)焊檢測(cè)

① G20MN…型

高 分 辨 率 直 探 頭 ， P V D F 晶 片 ，20MHZ，Microdot接頭和水延遲線，由可更換彈性保護(hù)膜密封，用于點(diǎn)焊檢測(cè)；晶片尺寸取決于點(diǎn)焊焊核，可以用15MHZ探頭檢測(cè)更大厚度的點(diǎn)焊。更多詳情請(qǐng)看特別版SD272。

用于精密部件檢測(cè)

① G…MN型

各種頻率沖擊波探頭，晶片直徑可選，Microdot接頭，可更換延遲塊；尤其適用于點(diǎn)焊檢測(cè)。

② H…NA，H…KA，H…MA型

各種頻率，晶片尺寸可選的水浸沖擊波探頭，H…N，H…K帶2.5m探頭線，H…M帶1.5m探頭線，Lemo00接頭；尤其適合厚度測(cè)量。

③ H...KP...F, H...MP...F型

各種頻率，晶片尺寸，焦距可選的高分辨率水浸探頭，防水Lemo03接頭，并附有用于機(jī)械自動(dòng)檢測(cè)的噴水耦合噴嘴。

膠接層檢測(cè)

例如在滑動(dòng)軸承（白金屬鐵或鋁鐵），焊接頭（鐵與鐵或者銅與銅，銅表面包銀），搭接焊，離合器扭轉(zhuǎn)或制動(dòng)襯板粘結(jié)檢測(cè)，關(guān)于更詳細(xì)的膠接檢測(cè)信息請(qǐng)查閱另外更詳細(xì)的資料SD288。然而，對(duì)于大部分檢測(cè)應(yīng)用要求，標(biāo)準(zhǔn) 探 頭 都 能 滿 足 。 如 有 特 殊 應(yīng) 用 需求，請(qǐng)聯(lián)系我們-我們將為您提供最合適的探頭。

腐蝕檢測(cè)

•  DA312

雙晶探頭檢測(cè)的最小厚度為0.6mm。

DA412

性能與DA312一樣，比DA312多對(duì)話功能，探頭里存儲(chǔ)了探頭參數(shù)。

DA311

相當(dāng)于標(biāo)準(zhǔn)探頭DA301，只是探頭接口在頂部。

DA303

2MHz雙晶探頭，用于測(cè)量聲能吸收或者聲散射嚴(yán)重的材料。

DA0，8G

雙晶探頭，用于聲衰減或者聲散射非常嚴(yán)重的材料（例如，鑄件或者塑料）。

DA408

與DA0，8G相同，只是比DA0，8G多對(duì)話功能，探頭里存儲(chǔ)了探頭參數(shù)。

DA317類型

雙晶探頭用于檢測(cè)厚度比較小并且表面溫度最大為300℃的工件，該型號(hào)探頭的耦合穩(wěn)定性非常好。

DA319

與DA312相同，只是該型號(hào)能用于表面溫度高達(dá)250℃的工件。

HT400

雙 晶 探 頭 用 于 檢 測(cè) 表 面 溫 度 高 達(dá)550℃的工件，在室溫下可測(cè)量的最小厚度為0.8mm。

DA305

雙晶探頭使用石英玻璃延遲塊，尤其適合于溫度非常高的工件檢測(cè)。

DA類型

一個(gè)非常小的筆型雙晶探頭，Microdot接 頭 ， 可 以 檢 測(cè) 接 觸 面 積 非 常 小 的工件。

CA212，CA214

高 分 辨 率 直 探 頭 ， 頻 率 為 2 M H z 或5MHz，通 過(guò) 螺 紋 固 定 延 遲 塊 或 保 護(hù)膜 ； 適 用 于 帶 A 掃 描 測(cè) 厚 儀 測(cè) 量 厚度值。

用于測(cè)試材料特性

例如利用縱波橫波聲速計(jì)算彈性模量。

G…N，G…KB，G…K型

各種頻率，晶片尺寸可選的沖擊波直探頭，耐磨損接觸面，Lemo00插頭。

G…K型為

Microdot接頭。適合測(cè)量縱波聲速。

SM-P…型

各種頻率，晶片尺寸可選的高分辨率直探頭，Microdot接頭，有一個(gè)磁環(huán)可將探頭固定在磁性材料上。尤其適合測(cè)量螺栓應(yīng)力。

K…NY，K…KY型

高分辨率橫波直探頭。多種頻率和晶片尺寸可選。Microdot接頭。適合測(cè)量橫波聲速，適用于精密測(cè)厚儀。

注釋：

如有需要，橫波和縱波晶片可以同時(shí)封裝在一個(gè)外殼里。例 如 可 以 用 來(lái) 確 定 硬 化 層 的 厚 度 和純度。

Z20m型

20MHZ，窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適合用超聲背散射測(cè)量硬化層深度。

注釋：

硬化層和未硬化層之間的結(jié)構(gòu)突變是測(cè)量的先決條件。參見(jiàn)SD284。

Z10M型

10MHZ窄脈沖水浸探頭，晶片尺寸5mm，1.5m探頭線，Lemo1接頭。適用于純度測(cè)量。

串聯(lián)式焊縫檢測(cè)

•  W45SEK2/…型

45º斜探頭，雙晶片，兩晶片的聲軸交點(diǎn)在焊縫中心；適用于對(duì)接焊。

② D45N2…型

各種角度，頻率，晶片尺寸的斜探頭，適用于串聯(lián)式厚焊縫檢測(cè)?？捎糜跈C(jī)械自動(dòng)檢測(cè)。

高溫高壓或輻射環(huán)境下檢測(cè)

•  W…B2GV，W…B4GV

45º，60º，70º斜探頭，頻率2MHZ，或4MHZ。Lemo00接頭。適合高溫超聲檢測(cè)。

② SEB4KV

4MHZ雙晶探頭，Lemo00接頭，與A掃描顯示的儀器連接可在高溫下用于厚度測(cè)量。

LWG854型

防輻射探頭：如檢測(cè)滲水燃油桿。

③ H5KV型

5MHZ水浸探頭，防水Lemo03接頭，可在125º和60bar下工作。尤其適合檢測(cè)輸油管道連續(xù)厚度測(cè)量和缺陷檢測(cè)，用特殊的表面保護(hù)層可用于腐蝕性材料檢測(cè)。

④ K5KVB4型

5MHZ直探頭，耐熱延遲塊，可用于高溫高壓下塑料部件的厚度測(cè)量。使用特殊延遲塊可用于腐蝕性材料檢測(cè)。

注釋：

高溫測(cè)厚探頭詳細(xì)資料見(jiàn)第11頁(yè)。

用于結(jié)構(gòu)復(fù)雜，空間接觸面積受限制的工件

SMWB型

小晶片斜探頭，頻率4MHZ，5MHZ，6MHZ。晶片尺寸3mmx4mm，入射角可選，Microdot接頭。

② K…M…型

各頻率小晶片直探頭，（外徑2.5mm，高度3mm），Microdot接頭或固定細(xì)探頭線?？商峁┙佑|面直徑為2mm的錐形延遲塊。

③ WSY型

90º爬波探頭，Lemo00接頭，用來(lái)檢測(cè)難以接近的位置。

注釋：

爬波在工件表面下沿直線傳播。它并不像表面波一樣沿著表面?zhèn)鞑?。所以有些用其他超聲波無(wú)法檢測(cè)到的缺陷可以用爬波檢測(cè)到。這種探頭必須很好的與材料表面貼合在一起才能產(chǎn)生爬波。

不用耦合劑（干耦合）檢測(cè)

如果在檢測(cè)工件表面不能使用液體耦合劑，某些情況下可以使用塑料來(lái)代替。

用塑料箔或塑料冒安裝在探頭前面保證探頭和檢測(cè)工件耦合。滾筒探頭，

B1KS，B1KE型帶有特殊接觸面可以在沒(méi)有耦合的情況下連續(xù)檢測(cè)。在這種情

況下，保證探頭和被檢物件表面的清潔是十分重要的，因?yàn)楣ぜ砻娴呐K物會(huì)

使探頭不能與工件耦合。這種技術(shù)尤其適合于塑料檢測(cè)。詳情請(qǐng)參見(jiàn)SD261。

用于粗晶材料的檢測(cè)（鑄件和奧氏體材料）

很多用于檢測(cè)粗晶材料的探頭都得到成功應(yīng)用，現(xiàn)在已成為標(biāo)準(zhǔn)探頭。

包括：

•  K…S，K…SM

各頻率高分辨率直探頭，晶片尺寸34或28mm，Lemo1接頭，通過(guò)螺紋固定保護(hù)膜，延遲線和斜楔。

② WRY…，WSY…

45º，60º，70º縱波斜探頭，高分辨率，頻率2MHZ。WSY…頻率4MHZ，Lemo00接頭。

③ VRY…，VSY…

45º，60º，70º，2MHZ縱波雙晶斜探頭。VSY… 4MHZ，Lemo00接頭。如果您需要與上述標(biāo)準(zhǔn)探頭頻率、入射角、接頭型號(hào)不同的探頭，請(qǐng)聯(lián)系我們，我們將給您提供最佳探頭，使其能滿足您的應(yīng)用需求。

根據(jù)標(biāo)準(zhǔn)檢測(cè)

很多國(guó)家的標(biāo)準(zhǔn)都規(guī)定了探頭的技術(shù)參數(shù)，常規(guī)檢測(cè)的檢測(cè)方法和規(guī)范。這些

標(biāo)準(zhǔn)的數(shù)量和范圍都非常大，在此對(duì)于具體的探頭參數(shù)不一一列舉。

如果您需要符合特定標(biāo)準(zhǔn)的探頭，請(qǐng)聯(lián)系我們，如果您急需探頭的話，我

們建議您給我們提供基于標(biāo)準(zhǔn)的探頭技術(shù)資料。